Halfgeleideranalyse
-
DB-FIB
Service-introductie Momenteel wordt DB-FIB (Dual Beam Focused Ion Beam) breed toegepast in onderzoek en productinspectie op gebieden zoals: keramische materialen, polymeren, metalen materialen, biologische studies, halfgeleiders, geologie Servicebereik Halfgeleidermaterialen, organische kleine moleculaire materialen, polymeermaterialen, organische/anorganische hybride materialen, anorganische niet-metalen materialen Achtergrond van de service Met de snelle vooruitgang van halfgeleiderelektronica en geïntegreerde schakelingen t... -
Destructieve fysieke analyse
De kwaliteitsconsistentiesvan het productieprocesinelektronische componentenZijnde voorwaardevoor elektronische componenten die voldoen aan hun gebruiks- en bijbehorende specificaties. Een groot aantal namaak- en gereviseerde componenten overspoelt de markt voor componentenleveringen, de aanpakom de authenticiteit van plankcomponenten te bepalen is een groot probleem voor componentgebruikers.
-
Foutanalyse
Door de verkorting van de R&D-cyclus van een onderneming en de groei van de productieomvang staan het productmanagement en de concurrentiekracht van een bedrijf onder druk van zowel binnenlandse als buitenlandse markten. Gedurende de gehele levenscyclus van een product wordt de productkwaliteit gegarandeerd en een laag of zelfs nul uitvalpercentage vormt een belangrijk concurrentievoordeel voor een onderneming, maar vormt het ook een uitdaging voor de kwaliteitscontrole.
